品牌 | TaylorHobson/英國泰勒霍普森 | 價格區間 | 面議 |
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,生物產業,石油,制藥,綜合 |
泰勒霍普森白光干涉儀TAYLOR
儀器簡介:
Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI(技術的相干相關算法)干涉原理,可高精度測量表面形貌、表面粗糙度及關鍵尺寸,并計算關鍵部位的面積和體積。主要應用于數據存儲器件,半導體器件,光學加工以及MEMS/MOEMS技術以及材料分析領域。
技術參數:
(1) 類型: CCI 干涉(相干相關干涉)
(2) 分辨率: 0.1 A
(3) 測量點數: 1,048,576 ( 1024 x 1024 點陣 )
更詳細參數和有關應用問題請垂詢辦事處產品負責人。
主要特點:
•相干相關算法
•0.01nm分辨率
•10-20秒測量時間
•RMS重復性:0.03A
泰勒霍普森白光干涉儀TAYLOR
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