Fischer x射線熒光測(cè)厚儀

Fischer x射線熒光測(cè)厚儀

Fischer x射線熒光測(cè)厚儀

菲希爾測(cè)厚儀射線熒光分析法 (XRFA)能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測(cè)量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量。菲希爾x射線測(cè)厚儀無論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能更好勝任，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。EDXRF作為一種常用測(cè)試方法，有著其突出的優(yōu)勢(shì)。Fischer x射線測(cè)厚儀它幾乎可以測(cè)量所有工藝相關(guān)元素，并且工作時(shí)無損且不接觸樣品。測(cè)量時(shí)間一般在數(shù)秒鐘內(nèi)，很少多于一分鐘。通常不需要復(fù)制的樣品制備，即可進(jìn)行快速測(cè)量。菲希爾x射線測(cè)厚儀利用該方法，可以同時(shí)測(cè)量均質(zhì)材料及鍍層的厚度和化學(xué)成分。不僅如此，EDXRF方法檢測(cè)各種類型樣品里的微量有害物質(zhì)。

此外，X射線熒光分析是一種清潔的測(cè)量方法，測(cè)量過程不使用任何化學(xué)制品。由于有著合理精巧的設(shè)計(jì)，X射線不會(huì)對(duì)操作人員和環(huán)境構(gòu)成任何威脅：菲希爾X射線儀器是安全可靠的

菲希爾x射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

1，測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零部件

2，測(cè)量微小區(qū)域上的薄鍍層

3，測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

4，全自動(dòng)測(cè)量，如測(cè)量印刷線路板