| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,化工,石油,能源,電子 |
菲希爾x射線測厚儀代理
菲希爾x射線測厚儀代理
X射線熒光分析法 (XRFA)：
能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無論是在實驗室還是工業生產環境中，這一方法都能*勝任，并還可以與現代化設備一起發揮作用。
X射線熒光法（XRFA）的優點：
快速無損的鍍層厚度測量（單層或多鍍層）
分析固態，粉末或液態樣品
有害物痕量分析
高精度和準確度
十分廣泛的應用
準確測量基材是磁性和導電的材料
樣品制備非常簡單
測試方法安全，沒有使用危害環境的化學制品
無耗品，物超所值
菲希爾xan215參數
| 設計用途 | 采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF）， 用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度 |
| 元素范圍 | 從元素氯（17）到鈾（92），多可同時測定24種元素。 |
| 重復性 | 測量金元素時≤1‰，測量時間60秒 |
| 形式設計 | 臺式儀器，測量門向上開啟 |
| 測量方向 | 由下往上 |
| X射線源 | |
| X射線管 | 帶鈹窗口的鎢靶射線管 |
| 高壓 | 三檔：30KV，40KV，50KV |
| 孔徑（準直器） | φ1mm；可選φ2mm |
| 測量點尺寸 | 當測量距離MD=0mm時，測量點直徑=孔徑直徑+200μm |
| X射線探測 | |
| X射線探測器 | 采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器 |
能量分辨率 （Mn元素Kα半高寬） | ≤180eV |
| 測量距離 | 0...10mm |
| 通過受保護的DCM測量距離補償法，可在不同測量距離上不需要重新校準就能進行測量；對于特殊的應用或者對測量精度要求較高的測量，可能需要進行額外的校準。 | |
| 樣品定位 | |
| 樣品放置 | 手動 |
| 視頻系統 | 高分辨率CCD彩色攝像頭，可沿著初級X射線光束方向，手動焦距，對被測位置進行監控 |
| 十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸），可調節亮度的LED照明 | |
| 圖像發達倍數 | 40x~160x |
| 工作臺 | |
| 形式設計 | 固定工作臺 |
| 樣品放置可用區域 | 310x320mm |
| 樣品大重量 | 13KG |
| 樣品高高度 | 90mm |
| 電氣參數 | |
| 電源要求 | AC 220V 50Hz |
| 功耗 | 大120W（不包括計算機） |
| 保護等級 | IP40 |
| 尺寸規格 | |
| 外部尺寸（寬x深x高） | 403x588x365mm |
| 重量 | 大約45KG |
| 環境要求 | |
| 使用時溫度 | 10℃~40℃ |
| 存儲或運輸時溫度 | 0℃~50℃ |
| 空氣相對濕度 | ≤95%，無結露 |
| 計算單元 | |
| 計算機 | Windows®-PC |
| 軟件 | 標準：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能 |
| 可選：Fischer WinFTM® | |
| 執行標準 | |
| CE合格標準 | EN 61010 |
| X射線標準 | DIN ISO 3497 和ASTM B 568 |
| 形式批準 | |
| 符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規的規定 | |
無錫駿展儀器有限責任公司在以下領域具有*的優勢:
1. 為機械加工、*制造、新材料應用、科研等前沿產業提供更新的檢測設備和檢測技術;
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