費希爾江蘇代理測厚儀XDLM231

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進入自動化測量世界費希爾江蘇代理

菲希爾XDLM231FISCHERSCOPE X-射線 XDL和XDLM光譜儀與 XUL 系列密切相關。主要組件（例如探測器，X射線管和濾波器組合）是相同的，但兩者有一個顯著的區別：XDL和XDLM設備是從上到下進行測量，這意味著可以方便地分析非平面樣品-復雜形狀不再是難題！費希爾江蘇代理

菲希爾XDLM231自上而下的測試方式還有另一個優點：可以很容易地實現自動測量。 XDL240和XDLM237配備了可編程的樣品臺，非常適合掃描樣品表面。 因此，您可以檢查較大部件上的鍍層厚度，或自動逐個測量大量的小部件。
與XUL系列一樣，XDLM中的“ M"代表“微聚焦管"。 這意味著這些設備特別適合分析小樣品。 XDLM的測量點直徑僅為0.1毫米，非常適合電子行業。費希爾江蘇代理

無錫駿展儀器有限責任公司提供專業的技術服務和售后服務的各種精密檢測儀器和設備,和專業的技術能力,全面的產品資源,深思熟慮的和快速的服務,可靠的設備質量為目的,在加工、*制造、新材料應用,科學研究等前沿領域有*的優勢。

菲希爾測厚儀兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點,由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數率,確保良好的重復精度。比較XUL和XUM儀器而言, XDL和XDLM系列儀器測星測星方向從.上到下。它們被設計為用戶友好的臺式機,使用模塊化結構,也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。
菲希爾測厚儀配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面,這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品，當測量門開啟時, XY工作臺自動移動到加載位置,同時激光點指示測星點位置。對于大而平整的樣品,例如線路板,殼體在側面有開口(C形槽)。由于測星室空間很大,樣品放置方便，儀器不僅可以測量平面平整的物體,也可以測星形狀復雜的大樣品(樣品高度可達140mm)。Z軸可電動調整的儀器，測量距離還可以在0 - 80 mm的范圍內自由選擇,這樣就可以測星腔體內部或表面不平整的物體(DCM方法)。