fischerscope XDLM231/XDLM232/XDLM237

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FischerXDLM232

FischerXDLM232

x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237也稱為X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動或自動方式，測量和分析微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規模生產的零部件上的鍍層。

x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237典型的應用領域有：

1，測量大規模生產的電鍍零部件

2，測量微小區域上的薄鍍層

3，測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

4，全自動測量，如測量印刷線路板

ISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設計，是用于質量控制，質量檢驗和生產監控的最合適的測量儀器。

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據不同的預期用途，有不同的版本。

XDLM 231 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統。

XDLM 232 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統。

XDLM 237 型則配備了馬達驅動的 X/Y 工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統。

XDLM系列儀器帶有4個可切換準直器，3種可切換的基本濾片，采用比例接收器，測量距離為0-80mm。

使用高分辨率的CCD彩色攝像頭

儀器重量100kg-120kg

儀器使用時溫度范圍10℃-40℃，空氣相對濕度為≤95%，無結露

計算機要求：帶擴展卡的計算機系統

可按要求，提供額外的XDLM型產品更改和XDLM儀器技術咨詢

穩固的手持式測量設備，用于直接現場測試

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

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