菲希爾代理FischerX射線測厚儀信息

Fischer 基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

菲希爾代理XDL型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經常校準儀器。

菲希爾代理XDL系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監(jiān)控。
菲希爾代理X射線測厚儀 FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的應用領域有：

? 測量大規(guī)模生產的電鍍部件

? 測量薄鍍層，例如裝飾鉻

? 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

? 全自動測量，如測量印刷線路板

? 分析電鍍溶液