Couloscope CMS2 STEP 菲希爾庫倫法測厚儀介紹

Couloscope CMS2 STEP 菲希爾庫倫法測厚儀介紹

COULOSCOPE CMS2 STEP菲希爾庫倫法測厚儀

•與COULOSCOPE CMS2附錄中描述的相同功能用于STEP測量測量

•可調節的除鍍電流

•使用光標確定涂層厚度和潛在差異

•自動測量序列，用于調節銀參比電極（產生所需的AgCl涂層）

STEP測試（同時厚度和電化學勢測定），ASTM B764，DIN EN 16866

在電鍍行業中，對多層鎳鍍層中各自層的同時的厚度和電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個鎳層?reg;間足夠的電位差導致了光亮鎳層優先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個鎳層的穿透速度，并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護。